Optikai mikroszkóp

• NICON ECLIPSE
  
• ZEISS Axio Imager A1
  

Sztereo mikroszkóp

• NIKON
  
• ZEISS ZEISS STEREO DISCOVERY V20

Konfokális lézer pásztázó mikroszkóp (CLSM)

• ZEISS LSM 700

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM)

• HITACHI 3400
• Alacsony és nagy vákuum, vezető és szigetelő felületek vizsgálata
• EDS analízis
• Aranyozó berendezés szigetelő minták vizsgálatához