Mikroszkópok

Optikai mikroszkóp

  • NICON ECLIPSE
  • ZEISS Axio Imager A1

Sztereo mikroszkóp

  • NIKON
  • ZEISS ZEISS STEREO DISCOVERY V20

Konfokális lézer pásztázó mikroszkóp (CLSM)

  • ZEISS LSM 700

Pásztázó elektronmikroszkóp (SEM)

  • HITACHI 3400
  • Alacsony és nagy vákuum, vezető és szigetelő felületek vizsgálata
  • EDS analízis
  • Aranyozó berendezés szigetelő minták vizsgálatához

Elérhetőségünk:

anyaglab.sze@gmail.com 

Anyagvizsgáló Laboratórium Eseménynaptára

Bejelentkezés a 2018/19. tanév II. félévére 2019. január 24. 06:00 - 2019. február 2. 23:55
Vizsgaidőszak vége 2019. január 26. 00:00 - 01:00
Szenátusi ülés 2019. január 28. 14:00 - 16:00
Méltányossági vizsgák 2019. január 30. 00:00 - 2019. február 2. 23:00
Beiratkozás 2019. január 31. 00:00 - 2019. február 1. 23:00